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安陽(yáng)BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀

安陽(yáng)BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀

  • 所屬分類(lèi)：安陽(yáng)納米粒度及Zeta電位分析儀
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  • 發(fā)布時(shí)間：2022-04-13 14:56:40
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  • 產(chǎn)品概述

產(chǎn)品介紹

BeNano 180 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀 是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向動(dòng)態(tài)光散射 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS，可以準(zhǔn)確的檢測(cè)顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。

180zeta.jpg


基本性能指標(biāo)


粒徑檢測(cè)

  原理

  動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)

  粒徑范圍

  0.3 nm – 10 μm 

  樣品量

  40 μL – 1 mL 

  檢測(cè)角度

  173 ° + 12°

  分析算法

  Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS


Zeta電位測(cè)試

  原理

  相位分析光散射技術(shù)

  檢測(cè)角度

  12°

  Zeta范圍

  無(wú)實(shí)際限制

  電泳遷移率范圍

  ＞±20 μ.cm/V.s

  電導(dǎo)率范圍

  0 - 260 mS/cm

  Zeta測(cè)試粒徑范圍

  2 nm – 110 μm  


分子量測(cè)試

  分子量范圍

  342 Da – 2 x 107 Da    


微流變測(cè)試

  頻率范圍

  0.2 – 1.3 x 107 rad/s

  測(cè)試能力

  均方位移、復(fù)數(shù)模量、彈性模量、粘性模量、蠕變?nèi)崃?/span> 


粘度和折光率測(cè)試

  粘度范圍

  0.01 cp – 100 cp

  折光率范圍

  1.3-1.6


趨勢(shì)測(cè)試

  時(shí)間和溫度



系統(tǒng)參數(shù)

  溫控范圍

  -15°C - 110°C，精度±0.1°C

  冷凝控制

  干燥空氣或者氮?dú)?span style="font-size: 16px; font-family: 微軟雅黑, "Microsoft YaHei"; box-sizing: border-box; padding: 0px; margin: 0px; -webkit-tap-highlight-color: transparent; outline: 0px;">

  標(biāo)準(zhǔn)激光光源

  50 mW 高性能固體激光器， 671 nm

  相關(guān)器

  最快25 ns采樣，最多 4000通道，1011動(dòng)態(tài)線(xiàn)性范圍

  檢測(cè)器

  APD （高性能雪崩光電二極管）

  光強(qiáng)控制

  0.0001%  - 100%，手動(dòng)或者自動(dòng)  


軟件

 中文和英文

 符合21CFR Part 11



檢測(cè)參數(shù)


●顆粒體系的光強(qiáng)、體積、面積和數(shù)量分布

●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布

●分子量

●分布系數(shù) PD.I

●擴(kuò)散系數(shù) D

●流體力學(xué)直徑 DH

●顆粒間相互作用力因子 kD

●溶液粘度



檢測(cè)技術(shù)

●動(dòng)態(tài)光散射

●電泳光散射

●靜態(tài)光散射




選配件


BeScan穩(wěn)定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩(wěn)定性分析設(shè)備，通過(guò)檢測(cè)得到樣品隨空間分布、時(shí)間、溫度的不穩(wěn)定性變化，并給出不穩(wěn)定性指數(shù)IUS，粒子遷移速度及樣品粒徑隨時(shí)間的變化曲線(xiàn)等信息。 BeScan靈敏的光學(xué)系統(tǒng)可以給出超過(guò)肉眼200倍以上的靈敏度，能更好的洞悉樣品的微觀結(jié)構(gòu)變化，從而極大的節(jié)約檢測(cè)時(shí)間，縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯(lián)合使用，通過(guò)定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

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