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天津BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀

天津BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀

  • 所屬分類:天津納米粒度及Zeta電位分析儀
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  • 發布時間:2022-04-13 14:29:50
  • 產品概述

產品介紹

BeNano 90 Zeta 納米粒度及 Zeta電位分析儀 是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學檢測系統。該系統中集成了動態光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態光散射技術 SLS,可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布,Zeta 電位,高分子和蛋白體系的分子量信息等參數,可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。

BeNano-90-Zeta.jpg


基本性能指標


粒徑檢測

  原理原理

  動態光散射技術

  粒徑范圍

  0.3 nm – 15 μm

  樣品量

  3 μL – 1 mL

  檢測角度

  90 ° + 12°

  分析算法

 Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLS


Zeta電位測試

  原理原理

  相位分析光散射技術

  檢測角度

  12°

  Zeta范圍

  無實際限制

  電泳遷移率范圍

  >±20 μ.cm/V.s

  電導率范圍

   0 - 260 mS/cm

  Zeta測試粒徑范圍

  2 nm – 110 μm 


分子量測試

  分子量范圍

  342 Da – 2 x 107 Da 


微流變測試

  頻率范圍

   0.2 – 1.3 x 107 rad/s

  測試能力

  均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量


折光率和粘度測試

  粘度范圍

  0.01 cp – 100 cp

  折光率范圍

  1.3-1.6


趨勢測試

  時間和溫度



系統參數

  溫控范圍

  -15°C - 110°C ,精度±0.1°C 

  冷凝控制

  干燥空氣或者氮氣

  標準激光光源

  50 mW 高性能固體激光器, 671 nm

  相關器

  最快25 ns采樣,最多 4000通道,1011動態線性范圍

  檢測器

  APD (高性能雪崩光電二極管)

  光強控制

  0.0001%  - 100%,手動或者自動


軟件

  中文和英文

 符合21CFR Part 11



檢測參數


●顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布

●顆粒體系的 Zeta 電位及其分布

●分子量

●分布系數 PD.I

●擴散系數 D

●流體力學直徑 DH

●顆粒間相互作用力因子 kD

●溶液粘度



檢測技術

●動態光散射

●電泳光散射

●相位分析光散射

●靜態光散射




選配件


BeScan穩定分析儀是基于多重光散射原理的樣品穩定性分析設備,通過檢測得到樣品隨空間分布、時間、溫度的不穩定性變化,并給出不穩定性指數IUS,粒子遷移速度及樣品粒徑隨時間的變化曲線等信息。 BeScan靈敏的光學系統可以給出超過肉眼200倍以上的靈敏度,能更好的洞悉樣品的微觀結構變化,從而極大的節約檢測時間,縮短配方研制周期。BeScan與BeNano聯合使用,通過定量的IUS和Zeta電位信息研究樣品的變化及其原因。

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